遂宁同轴真空馈通件
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产品描述

温度范围零下180~550℃ 变温速度0~10℃/min,升降温线性可控 温度分辨率及稳定性± 0.1℃ 控温方式PID 温度传感器PT100 温度传感器数量2 致冷方式液氮(泵控制) 探针数量4(可增加) 探针材质紫铜镀金 测试通道4 载样台材质及尺寸银质,35*35mm(以实际尺寸为准) 冷热台尺寸160*150*29mm(以实际尺寸为准) 实验环境可抽真空,可充入保护气氛(氮气),配水冷接口
探针台卡盘(Prober Chuck)是一种用于半导体测试和研究的设备,主要应用于晶圆探针测试(wafer probing)过程中。其功能是将待测试的晶圆或芯片固定在稳定的位置,以便进行电气性能测试和测量。
探针台卡盘的设计通常考虑到以下几个方面:
1. **固定能力**:卡盘需要能够牢固固定不同尺寸和形状的晶圆,防止在测试过程中发生移动。
2. **热管理**:在测试过程中,卡盘可能会发热,因此其材料和设计需具备良好的热导性,以避免影响测试结果。
3. **平面度**:确保卡盘的表面平整,以便与探针对接,减少接触不良的可能性。
4. **兼容性**:许多卡盘都是设计为与探针台(prober)和测试设备兼容,便于集成使用。
5. **微调功能**:一些的探针台卡盘具备微调功能,可通过机械或电动方式微调晶圆的位置,以达到的探针接触效果。
探针台卡盘在集成电路(IC)制造、半导体器件测试以及材料科学研究等领域广泛应用。
高低温真空探针台是一种用于材料和半导体器件测试的精密设备,其特点包括:
1. **温度范围广**:能够在极低温(例如液氮温度)到高温(例如700℃以上)之间进行测试,适用于不同材料和器件的特性分析。
2. **真空环境**:提供高真空或真空环境,减少氧化和污染,提高测试数据的准确性和重复性。
3. **高精度探针**:配备高精度的探针,可以对微小区域进行测量,适用于微电子器件和纳米材料的测试。
4. **自动化设置**:许多高低温真空探针台配备自动化控制系统,可以实现温度和压力的准确控制,提高测试效率。
5. **多功能性**:支持多种测试方法,如电学测试、热学测试、光学测试等,适用于不同类型的材料和器件。
6. **良好的热管理**:采用的热传导和绝热技术,确保在高低温环境中设备的稳定性和测试的可靠性。
7. **数据采集系统**:配备的数据采集和分析系统,能够实时监控和记录测试数据,方便后续分析。
8. **模组化设计**:很多探针台采用模组化设计,用户可以根据需要更换不同的探针或附件,提高设备的灵活性。
这些特点使得高低温真空探针台在材料科学、半导体研发及微电子器件测试等领域中被广泛应用。
遂宁同轴真空馈通件
微型高低温真空探针台是一种用于电子材料和器件测试的精密仪器,具备以下几个主要特点:
1. **高低温测试能力**:能够在极低温(如液氮温度)到高温(如400°C以上)范围内进行测试,适用于不同温度环境下的材料性能研究。
2. **真空环境**:探针台设计用于在高真空条件下操作,减少氧化和污染,确保测试结果的准确性和重复性。
3. **高精度探测**:配备高精度的探针和测量系统,能够准确获取微小电流、电压等信号,适用于微小尺度器件的电测量。
4. **微型化设计**:体积小巧,便于在有限空间内进行操作,适合于微电子器件、纳米材料等研究。
5. **灵活的样品装配**:通常具有友好的样品夹具设计,便于不同类型和尺寸的样品装配和更换。
6. **多功能性**:可能支持多种测试模式,如直流测试、交流测试、霍尔效应测试等,适用范围广。
7. **易于连接**:可与其他测试设备(如示波器、信号发生器等)快速连接,便于进行综合测试。
总之,微型高低温真空探针台在材料科学、半导体研究和纳米技术等领域中具有重要的应用价值。
遂宁同轴真空馈通件
探针夹具是一种用于电子测试和信号测量的设备,它的主要功能包括:
1. **信号接触**:探针夹具可以地与电路板上的测试点接触,从而获取信号或电源。这对于电路功能测试和调试至关重要。
2. **高精度定位**:探针夹具通常具有高精度的定位功能,可以确保探针准确接触到*的测试点,提高测试的可靠性和准确性。
3. **自动化测试**:随着自动化测试技术的发展,探针夹具常常与自动测试设备(ATE)配合使用,实现的自动化测试,提高测试效率和一致性。
4. **适应性强**:探针夹具通常设计为可以适应不同规格的PCB(印刷电路板),支持多种类型的测试点,如焊盘、引脚等。
5. **减少干扰**:良好的探针夹具设计可以减少在测试过程中可能引入的干扰,提高测量的准确性。
6. **多通道测试**:一些的探针夹具可以支持多通道同时测试,提高测试的效率,特别是在批量生产测试中具有明显的优势。
总的来说,探针夹具在电子产品的研发、测试和生产过程中起到了重要的作用,能够有效提高测试的效率和准确性。
遂宁同轴真空馈通件
探针台卡盘(probe station chuck)是用于半导体测试和材料研究的重要设备,其特点包括:
1. **高精度**:探针台卡盘通常具有高精度的定位能力,能够确保探针与测试样品之间的对接,从而提高测试的准确性。
2. **温控能力**:许多探针台卡盘配备有温度控制系统,可以在升温或降温的情况下进行测试,帮助研究人员观察材料在不同温度下的性能变化。
3. **真空功能**:某些探针台卡盘具有真空夹紧功能,可以确保样品在测试过程中固定稳定,减少外部干扰。
4. **兼容性强**:探针台卡盘通常设计为兼容多种类型的测试探针和测试仪器,方便用户进行不同类型的实验。
5. **灵活性**:探针台卡盘可以适应不同尺寸和形状的样品,提供多种夹持方式,以满足不同测试需求。
6. **性能**:针对信号测试的需求,一些探针台卡盘具备良好的性能,能够有效降低信号衰减和反射。
7. **用户友好的操作界面**:现代探针台常配备直观的控制系统,便于用户对设备进行调整和设置。
8. **耐用性**:探针台卡盘通常采用量材料制造,以确保设备的耐久性和稳定性,在复杂环境下也能长期使用。
综合以上特点,探针台卡盘在半导体测试、材料研究等领域中扮演着关键角色,极大地推动了相关技术的发展。
同轴真空馈通件广泛应用于许多领域,主要包括:
1. **微波通信**:在卫星通信、无线传输等领域中,用于传输信号。
2. **射频功率放大**:在射频(RF)放大器中,帮助传输和采集高功率信号。
3. **天线系统**:在天线和发射器中,用于信号传输。
4. **高能物理实验**:在粒子加速器等实验设备中,用于传输信号。
5. **实验室设备**:在实验室中用于设备的连接和信号传输。
6. **系统**:用于和民用系统中进行信号传递。
7. **设备**:在某些医学成像和设备中也会用到。
同轴真空馈通件的设计需要考虑频率范围、功率处理能力、插入损耗以及物理尺寸等因素,以确保其在特定应用中的性能和可靠性。
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