温度范围零下180~550℃
变温速度0~10℃/min,升降温线性可控
温度分辨率及稳定性± 0.1℃
控温方式PID
温度传感器PT100
温度传感器数量2
致冷方式液氮(泵控制)
探针数量4(可增加)
探针材质紫铜镀金
测试通道4
载样台材质及尺寸银质,35*35mm(以实际尺寸为准)
冷热台尺寸160*150*29mm(以实际尺寸为准)
实验环境可抽真空,可充入保护气氛(氮气),配水冷接口
探针台卡盘(Prober chuck)是半导体测试和测量设备中常用的一种组件,主要用于在测试过程中夹持和定位待测芯片或晶圆。探针台通常用于集成电路(IC)的电性能测试,其主要功能包括:
1. **夹持**:确保芯片在测试时稳定不动,避免因震动或移动导致测量误差。
2. **热管理**:某些探针台卡盘设计中考虑了热管理功能,可以有效散热,以保证测试过程中芯片性能的一致性和准确性。
3. **高精度定位**:支持微米级别的高精度定位,以便探针能够接触到芯片上的测试点。
4. **多功能性**:一些的探针台卡盘可以支持多种测试模式,包括直流测试、交流测试、测试等。
5. **集成化设计**:现代探针台卡盘往往与其他测试设备,如信号发生器、示波器等,进行集成,以提高测试效率。
在选择探针台卡盘时,需要考虑待测器件的类型、尺寸,所需的测试精度以及其他特定要求。
同轴真空馈通件是一种用于电子设备的连接器,主要用于在真空环境中传输信号。其特点包括:
1. **优良的信号传输性能**:同轴结构能够有效地减少信号的损耗和反射,保证信号的质量。
2. **良好的屏蔽性能**:同轴设计可提供较好的电磁干扰屏蔽,防止外部干扰信号影响传输质量。
3. **耐高真空特性**:专门设计用于在真空环境中工作,不易受到气体和水分的影响,适用于真空设备,如粒子加速器和真空腔等。
4. **高功率承受能力**:能够承受较高的功率水平,适合用于高功率射频应用。
5. **机械稳定性**:结构坚固,能够经受一定的机械应力和温度变化。
6. **便于安装和维护**:设计通常考虑到易于安装和维护,便于与其他设备连接。
7. **多种接口类型**:可根据需要提供不同类型的连接器接口,以适应应用场景。
以上这些特点使得同轴真空馈通件在通信、射频设备及实验物理等领域具有广泛的应用前景。

探针夹具是一种用于电子测试和信号测量的设备,它的主要功能包括:
1. **信号接触**:探针夹具可以地与电路板上的测试点接触,从而获取信号或电源。这对于电路功能测试和调试至关重要。
2. **高精度定位**:探针夹具通常具有高精度的定位功能,可以确保探针准确接触到*的测试点,提高测试的可靠性和准确性。
3. **自动化测试**:随着自动化测试技术的发展,探针夹具常常与自动测试设备(ATE)配合使用,实现的自动化测试,提高测试效率和一致性。
4. **适应性强**:探针夹具通常设计为可以适应不同规格的PCB(印刷电路板),支持多种类型的测试点,如焊盘、引脚等。
5. **减少干扰**:良好的探针夹具设计可以减少在测试过程中可能引入的干扰,提高测量的准确性。
6. **多通道测试**:一些的探针夹具可以支持多通道同时测试,提高测试的效率,特别是在批量生产测试中具有明显的优势。
总的来说,探针夹具在电子产品的研发、测试和生产过程中起到了重要的作用,能够有效提高测试的效率和准确性。

探针台卡盘(probe station chuck)是用于半导体测试和材料研究的重要设备,其特点包括:
1. **高精度**:探针台卡盘通常具有高精度的定位能力,能够确保探针与测试样品之间的对接,从而提高测试的准确性。
2. **温控能力**:许多探针台卡盘配备有温度控制系统,可以在升温或降温的情况下进行测试,帮助研究人员观察材料在不同温度下的性能变化。
3. **真空功能**:某些探针台卡盘具有真空夹紧功能,可以确保样品在测试过程中固定稳定,减少外部干扰。
4. **兼容性强**:探针台卡盘通常设计为兼容多种类型的测试探针和测试仪器,方便用户进行不同类型的实验。
5. **灵活性**:探针台卡盘可以适应不同尺寸和形状的样品,提供多种夹持方式,以满足不同测试需求。
6. **性能**:针对信号测试的需求,一些探针台卡盘具备良好的性能,能够有效降低信号衰减和反射。
7. **用户友好的操作界面**:现代探针台常配备直观的控制系统,便于用户对设备进行调整和设置。
8. **耐用性**:探针台卡盘通常采用量材料制造,以确保设备的耐久性和稳定性,在复杂环境下也能长期使用。
综合以上特点,探针台卡盘在半导体测试、材料研究等领域中扮演着关键角色,极大地推动了相关技术的发展。

高低温真空探针台是一种用于材料和半导体器件测试的精密设备,其特点包括:
1. **温度范围广**:能够在极低温(例如液氮温度)到高温(例如700℃以上)之间进行测试,适用于不同材料和器件的特性分析。
2. **真空环境**:提供高真空或真空环境,减少氧化和污染,提高测试数据的准确性和重复性。
3. **高精度探针**:配备高精度的探针,可以对微小区域进行测量,适用于微电子器件和纳米材料的测试。
4. **自动化设置**:许多高低温真空探针台配备自动化控制系统,可以实现温度和压力的准确控制,提高测试效率。
5. **多功能性**:支持多种测试方法,如电学测试、热学测试、光学测试等,适用于不同类型的材料和器件。
6. **良好的热管理**:采用的热传导和绝热技术,确保在高低温环境中设备的稳定性和测试的可靠性。
7. **数据采集系统**:配备的数据采集和分析系统,能够实时监控和记录测试数据,方便后续分析。
8. **模组化设计**:很多探针台采用模组化设计,用户可以根据需要更换不同的探针或附件,提高设备的灵活性。
这些特点使得高低温真空探针台在材料科学、半导体研发及微电子器件测试等领域中被广泛应用。
探针夹具主要用于电子元件测试和测量,其适用范围包括:
1. **半导体测试**:用于芯片、集成电路(IC)等电子元器件的电气特性测试。
2. **电路板测试**:适用于PCB(印刷电路板)的测试,能够帮助检测PCB上的连接和功能。
3. **研发和实验**:在电子产品的研发阶段,探针夹具可以用于快速原型测试和实验验证。
4. **质量控制**:在生产过程中,探针夹具可用于自动化测试以确保产品质量。
5. **维修与故障排查**:在维修过程中,探针夹具可以用来快速测试疑似故障的元器件。
探针夹具的灵活性和性使其成为电子行业广泛使用的重要工具。
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