温度范围零下180~550℃
变温速度0~10℃/min,升降温线性可控
温度分辨率及稳定性± 0.1℃
控温方式PID
温度传感器PT100
温度传感器数量2
致冷方式液氮(泵控制)
探针数量4(可增加)
探针材质紫铜镀金
测试通道4
载样台材质及尺寸银质,35*35mm(以实际尺寸为准)
冷热台尺寸160*150*29mm(以实际尺寸为准)
实验环境可抽真空,可充入保护气氛(氮气),配水冷接口
微型高低温真空探针台是一种用于材料科学、半导体研究和纳米技术等领域的精密测试设备。它能够在真空环境中对样品进行高温或低温测试,从而研究材料的电学、热学和光学特性。以下是一些微型高低温真空探针台的主要特点和功能:
1. **温控范围**:能够在极低温(如液氮温度)到高温(如500°C以上)之间进行调节,满足不同研究需求。
2. **真空环境**:通过真空系统,可以有效减少氧化和污染,确保测试过程中样品的纯净性。
3. **微型设计**:按照微型化的设计,可以方便地与实验设备结合,适用于小尺寸样品的测试。
4. **高精度探针**:配有高精度的探针,可以实现对材料的电性、热性等特性的测量。
5. **多功能性**:一些型号可能具备多种功能,包括四探针电阻测量、霍尔效应测试等。
6. **数据采集与分析**:通常配备相关软件,可以实现数据的实时采集与分析,便于科研人员进行后续研究。
微型高低温真空探针台在半导体器件、超导材料、热电材料等领域有着广泛应用,是科研和实验室的工具。
同轴真空馈通件是一种用于信号传输的元件,主要的功能包括:
1. **信号传输**:用于在真空环境中传输或微波信号,确保信号的有效传递。
2. **隔离真空和常规环境**:通过密封设计,能够在真空环境下工作,避免外界环境对设备的影响,保护信号传输的稳定性。
3. **低损耗**:设计优化以减少信号在传输过程中的损耗,确保信号的质量。
4. **相位稳定性**:在不同温度和真空条件下,保持信号的相位稳定性。
5. **适应性**:可以和不同类型的同轴电缆和连接器兼容,适应多种不同的应用场合。
6. **性能**:能在率下正常工作,通常用于、通讯、测试设备等设备中。
同轴真空馈通件广泛应用于科学实验、微波技术、卫星通讯、粒子加速器等领域,能够满足信号在特殊环境下的传输需求。

真空探针台是一种用于微电子器件测试与研究的精密仪器,其主要功能包括:
1. **电学测试**:能够对半导体器件进行电性能测试,如IV(电流-电压)特性测试、CV(电容-电压)特性测试等。
2. **高真空环境**:提供高真空或真空环境,减少气体分子对测试结果的干扰,特别是在处理空气敏感材料或量子特性研究时尤为重要。
3. **微观定位**:由于其高精度的定位功能,能够对微小结构进行接触和扫描,适用于纳米尺度设备的测试。
4. **冷热测试**:部分真空探针台配备温控系统,可以在低温或高温条件下进行测试,以研究材料和器件在不同温度下的特性。
5. **材料表征**:能够对薄膜、纳米材料等进行表征,分析其电学性质、表面状态等。
6. **集成化测试**:可以与其他仪器(如扫描电子显微镜、原子力显微镜等)联用,进行更深入的材料或器件分析。
总之,真空探针台是半导体研究、材料科学等领域中的重要设备。

探针台卡盘(probe station chuck)是用于半导体测试和材料研究的重要设备,其特点包括:
1. **高精度**:探针台卡盘通常具有高精度的定位能力,能够确保探针与测试样品之间的对接,从而提高测试的准确性。
2. **温控能力**:许多探针台卡盘配备有温度控制系统,可以在升温或降温的情况下进行测试,帮助研究人员观察材料在不同温度下的性能变化。
3. **真空功能**:某些探针台卡盘具有真空夹紧功能,可以确保样品在测试过程中固定稳定,减少外部干扰。
4. **兼容性强**:探针台卡盘通常设计为兼容多种类型的测试探针和测试仪器,方便用户进行不同类型的实验。
5. **灵活性**:探针台卡盘可以适应不同尺寸和形状的样品,提供多种夹持方式,以满足不同测试需求。
6. **性能**:针对信号测试的需求,一些探针台卡盘具备良好的性能,能够有效降低信号衰减和反射。
7. **用户友好的操作界面**:现代探针台常配备直观的控制系统,便于用户对设备进行调整和设置。
8. **耐用性**:探针台卡盘通常采用量材料制造,以确保设备的耐久性和稳定性,在复杂环境下也能长期使用。
综合以上特点,探针台卡盘在半导体测试、材料研究等领域中扮演着关键角色,极大地推动了相关技术的发展。

探针台卡盘(Probing Station Chuck)在半导体测试和研究中具有重要功能。它的主要功能包括:
1. **样品固定**:探针台卡盘能够稳固地固定待测试的半导体芯片或其他样本,确保在测试过程中样品不发生移动。
2. **定位**:通过高精度的微调机制,卡盘可以实现样品的定位,以便于探针与样品上的特定点进行接触。
3. **温度控制**:一些的探针台卡盘配备了温度控制功能,可以在不同的温度条件下进行测试,以研究温度对电性能的影响。
4. **电气连接**:卡盘通常与探针阵列一起工作,通过探针与样品接触,实现电气信号的传输,允许测试电性能参数。
5. **兼容性**:探针台卡盘设计通常具有良好的兼容性,可以与不同类型和尺寸的样本以及探针头配合使用。
6. **环境控制**:一些探针台卡盘具备气氛控制功能,可以在特定气氛(如氮气或真空环境)中进行测试,以降低氧化和其他环境影响。
总的来说,探针台卡盘在半导体研发和制造过程中扮演着至关重要的角色,它不仅提高了测试的性,还为研究提供了的实验条件。
探针台是一种广泛应用于微电子、半导体和材料科学等领域的测试设备。其适用范围主要包括以下几个方面:
1. **半导体测试**:探针台用于对半导体器件进行电性能测试,如晶体管、二极管、集成电路等。
2. **材料分析**:可以用于测试和分析材料的电学、热学和光学特性,特别是在材料研发阶段。
3. **微纳米技术**:探针台在微纳米器件的制造和测试中扮演着重要角色,用于研究和开发微机电系统(MEMS)和纳米技术相关产品。
4. **研发与生产测试**:在产品研发阶段和生产线上,探针台可以快速地对产品进行测试和验证,确保其性能指标符合设计要求。
5. **故障分析**:在电路故障分析中,通过探针台可以定位问题部件,进行电气测试和故障排查。
6. **教学与科研**:在高校和研究机构,探针台常用于实验教学和科研项目,为学生和研究人员提供实践机会。
总之,探针台是一个多功能、高精度的测试平台,适用于多个领域的研究与应用。
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