温度范围零下180~550℃
变温速度0~10℃/min,升降温线性可控
温度分辨率及稳定性± 0.1℃
控温方式PID
温度传感器PT100
温度传感器数量2
致冷方式液氮(泵控制)
探针数量4(可增加)
探针材质紫铜镀金
测试通道4
载样台材质及尺寸银质,35*35mm(以实际尺寸为准)
冷热台尺寸160*150*29mm(以实际尺寸为准)
实验环境可抽真空,可充入保护气氛(氮气),配水冷接口
同轴真空馈通件是一种重要的电子元件,常用于微波和射频(RF)系统中。它的主要作用是将信号从一个传输线(如同轴电缆)传递到另一系统,同时保持良好的电气隔离并防止真空环境中的电气泄漏。
同轴真空馈通件的设计通常包括以下几个关键要素:
1. **结构**:通常由内导体、外导体和绝缘体构成。在真空环境中工作时,外导体需要具有良好的导电性,而绝缘体则需要能够承受真空环境和高电压。
2. **频率特性**:不同的设计会针对不同的工作频率进行优化,以确保在所需频率范围内具有低的插入损耗和反射损耗。
3. **密封性能**:由于在真空环境中工作,馈通件需要有良好的密封性能,以防止空气渗入并引起导电性变化或其他不良影响。
4. **材料选择**:材质通常选用具有良好导电性的金属材料(如铜或铝)和适合高真空环境的绝缘材料(如陶瓷或特定的塑料)。
同轴真空馈通件广泛应用于粒子加速器、真空腔、射频腔及其他实验和工业设备中。在实际应用中,设计和制造这样的馈通件需要考虑到工作环境的特殊要求,以确保其长期稳定的性能。
光学探针台是一种高精度的实验设备,主要用于表征材料的光学性能和研究微观结构。以下是光学探针台的主要特点:
1. **高精度定位**:光学探针台通常具备高精度的运动系统,能够在微米或纳米级别上进行样品定位,以确保实验结果的准确性。
2. **多功能性**:很多光学探针台可以支持多种测量方法,如反射、透射、荧光及拉曼光谱等,适用于不同的研究需求。
3. **环境控制**:有些光学探针台配备有温度、湿度、气氛等环境控制系统,能够在特定条件下进行实验,适应不同材料的测试要求。
4. **光学元件的集成**:探针台通常集成有高性能的光学元件,如透镜、滤光片和光源等,以提高光学测量的灵敏度和信噪比。
5. **图像采集与分析**:许多光学探针台具有图像采集功能,可以实时观察样品表面、形貌及其他特征,并与测量数据结合进行分析。
6. **模块化设计**:一些探针台是模块化的,可以根据实验需要进行升级和扩展,适应不同的研究需求。
7. **用户友好的操作界面**:现代的光学探针台通常配备友好的软件界面,使得用户可以轻松设置实验参数,进行数据采集和分析。
8. **适用性广**:广泛应用于半导体、材料科学、生物医学等领域,在基础研究和工业应用中都具有重要价值。
光学探针台因其高度和多功能性,被广泛用于科研与工业领域的光学测量与分析任务。

探针台卡盘(Probing Station Chuck)在半导体测试和研究中具有重要功能。它的主要功能包括:
1. **样品固定**:探针台卡盘能够稳固地固定待测试的半导体芯片或其他样本,确保在测试过程中样品不发生移动。
2. **定位**:通过高精度的微调机制,卡盘可以实现样品的定位,以便于探针与样品上的特定点进行接触。
3. **温度控制**:一些的探针台卡盘配备了温度控制功能,可以在不同的温度条件下进行测试,以研究温度对电性能的影响。
4. **电气连接**:卡盘通常与探针阵列一起工作,通过探针与样品接触,实现电气信号的传输,允许测试电性能参数。
5. **兼容性**:探针台卡盘设计通常具有良好的兼容性,可以与不同类型和尺寸的样本以及探针头配合使用。
6. **环境控制**:一些探针台卡盘具备气氛控制功能,可以在特定气氛(如氮气或真空环境)中进行测试,以降低氧化和其他环境影响。
总的来说,探针台卡盘在半导体研发和制造过程中扮演着至关重要的角色,它不仅提高了测试的性,还为研究提供了的实验条件。

探针台(Probe Station)是一种用于测试和分析微电子器件(如集成电路、传感器等)的设备。其主要特点包括:
1. **高精度定位**:探针台能够定位待测样品,通常配备精密机械手臂和高分辨率的光学显微镜。
2. **多样化探针**:探针台配备多种探针,可以用于不同类型的测试,如直流、交流或测试。
3. **温控能力**:许多探针台具备温度控制功能,可以在极低或极高的温度条件下进行测试,以模拟实际工作环境。
4. **可扩展性**:探针台通常可以与其他测试设备(如示波器、信号发生器)进行连接,实现更复杂的测试方案。
5. **软件控制**:现代探针台配备了计算机控制系统,可以通过软件进行操作,实时收集和分析测试数据。
6. **兼容性**:探针台可以处理多种尺寸和形状的样品,包括晶圆、芯片和其他微电子器件。
7. **环境监控**:一些探针台具有气候控制系统,可以在洁净室或受控环境中进行测试,确保测试结果的可靠性。
这些特点使得探针台在半导体开发、质量控制和研究等领域中扮演着重要角色。

探针夹具是一种用于电子测试和信号测量的设备,它的主要功能包括:
1. **信号接触**:探针夹具可以地与电路板上的测试点接触,从而获取信号或电源。这对于电路功能测试和调试至关重要。
2. **高精度定位**:探针夹具通常具有高精度的定位功能,可以确保探针准确接触到*的测试点,提高测试的可靠性和准确性。
3. **自动化测试**:随着自动化测试技术的发展,探针夹具常常与自动测试设备(ATE)配合使用,实现的自动化测试,提高测试效率和一致性。
4. **适应性强**:探针夹具通常设计为可以适应不同规格的PCB(印刷电路板),支持多种类型的测试点,如焊盘、引脚等。
5. **减少干扰**:良好的探针夹具设计可以减少在测试过程中可能引入的干扰,提高测量的准确性。
6. **多通道测试**:一些的探针夹具可以支持多通道同时测试,提高测试的效率,特别是在批量生产测试中具有明显的优势。
总的来说,探针夹具在电子产品的研发、测试和生产过程中起到了重要的作用,能够有效提高测试的效率和准确性。
探针台卡盘广泛应用于半导体行业,尤其是在集成电路(IC)测试和微电子设备的研发过程中。其适用范围主要包括以下几个方面:
1. **半导体测试**:用于对晶圆或封装好的芯片进行电气测试,验证其性能和功能。
2. **光电器件测量**:适用于光电传感器、激光器等器件的测试,评估其光电性能。
3. **微机电系统(MEMS)**:在MEMS器件的研发与测试中,探针台卡盘能够帮助实现高精度的电气连接和测试。
4. **材料研究**:用于研究新材料的电学性质,评估其在电子器件中的应用潜力。
5. **教育与研发**:在实验室和高等院校中,用于教学和科研活动,帮助学生和研究人员进行基础实验和技术开发。
探针台卡盘的设计通常强调高精度和可调性,以适应不同尺寸和类型的测试样品,确保测试结果的准确性和重复性。
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