恩施微型高低温真空探针台
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产品描述

温度范围零下180~550℃ 变温速度0~10℃/min,升降温线性可控 温度分辨率及稳定性± 0.1℃ 控温方式PID 温度传感器PT100 温度传感器数量2 致冷方式液氮(泵控制) 探针数量4(可增加) 探针材质紫铜镀金 测试通道4 载样台材质及尺寸银质,35*35mm(以实际尺寸为准) 冷热台尺寸160*150*29mm(以实际尺寸为准) 实验环境可抽真空,可充入保护气氛(氮气),配水冷接口
微型高低温真空探针台是一种用于材料研究和半导体器件测试的精密设备。它能够在真空环境中提供高温和低温的测试条件,使研究人员能够评估材料和器件在不同温度下的性能。
主要特点包括:
1. **温度范围广**:能够实现从低于室温到高温的调节,通常可以在-196°C到500°C的范围内工作。
2. **真空环境**:通过真空腔体,实现高真空条件,有助于消除氧化和污染,对材料性能影响的研究重要。
3. **高精度探针**:配备高精度的探针系统,用于电学测量、材料表征等。
4. **微型设计**:相较于传统探针台,微型设计使得设备体积更小,更便于实验室使用和搬运。
5. **多功能性**:可以配合多种测试设备使用,如示波器、频谱分析仪等,适应不同的实验需求。
微型高低温真空探针台在材料科学、纳米技术、电子学等领域具有广泛的应用,是研究新材料和器件性能的重要工具。
探针座位移平台是一种用于电子测试和测量的设备,主要功能包括:
1. **定位**:能够地移动探针到*的测试点,确保测量的准确性。
2. **多轴控制**:通常具有多个自由度(如X、Y、Z轴),可以在三维空间中灵活移动,以适应不同尺寸和布局的测试样品。
3. **自动化测试**:支持自动化操作,提高测试效率,减少人为误差。
4. **扫描功能**:可以进行扫描操作,逐点测量,以获取样品的电性能数据。
5. **与测试仪器集成**:可与测试仪器(如示波器、LCR表等)连接,进行综合测试与数据分析。
6. **数据记录与分析**:记录测试过程中的数据,并可进行后续分析,以便于评估样品性能。
7. **灵活适应性**:可根据不同的测试需求和样品特性,调整探针的位置和压力,以确保接触。
探针座位移平台在半导体、微电子、材料科学等领域的测试和研究中具有重要的应用价值。
恩施微型高低温真空探针台
同轴真空馈通件是一种用于电子设备的连接器,主要用于在真空环境中传输信号。其特点包括:
1. **优良的信号传输性能**:同轴结构能够有效地减少信号的损耗和反射,保证信号的质量。
2. **良好的屏蔽性能**:同轴设计可提供较好的电磁干扰屏蔽,防止外部干扰信号影响传输质量。
3. **耐高真空特性**:专门设计用于在真空环境中工作,不易受到气体和水分的影响,适用于真空设备,如粒子加速器和真空腔等。
4. **高功率承受能力**:能够承受较高的功率水平,适合用于高功率射频应用。
5. **机械稳定性**:结构坚固,能够经受一定的机械应力和温度变化。
6. **便于安装和维护**:设计通常考虑到易于安装和维护,便于与其他设备连接。
7. **多种接口类型**:可根据需要提供不同类型的连接器接口,以适应应用场景。
以上这些特点使得同轴真空馈通件在通信、射频设备及实验物理等领域具有广泛的应用前景。
恩施微型高低温真空探针台
真空探针台是一种用于微电子器件测试与研究的精密仪器,其主要功能包括:
1. **电学测试**:能够对半导体器件进行电性能测试,如IV(电流-电压)特性测试、CV(电容-电压)特性测试等。
2. **高真空环境**:提供高真空或真空环境,减少气体分子对测试结果的干扰,特别是在处理空气敏感材料或量子特性研究时尤为重要。
3. **微观定位**:由于其高精度的定位功能,能够对微小结构进行接触和扫描,适用于纳米尺度设备的测试。
4. **冷热测试**:部分真空探针台配备温控系统,可以在低温或高温条件下进行测试,以研究材料和器件在不同温度下的特性。
5. **材料表征**:能够对薄膜、纳米材料等进行表征,分析其电学性质、表面状态等。
6. **集成化测试**:可以与其他仪器(如扫描电子显微镜、原子力显微镜等)联用,进行更深入的材料或器件分析。
总之,真空探针台是半导体研究、材料科学等领域中的重要设备。
恩施微型高低温真空探针台
探针台卡盘(Probing Station Chuck)在半导体测试和研究中具有重要功能。它的主要功能包括:
1. **样品固定**:探针台卡盘能够稳固地固定待测试的半导体芯片或其他样本,确保在测试过程中样品不发生移动。
2. **定位**:通过高精度的微调机制,卡盘可以实现样品的定位,以便于探针与样品上的特定点进行接触。
3. **温度控制**:一些的探针台卡盘配备了温度控制功能,可以在不同的温度条件下进行测试,以研究温度对电性能的影响。
4. **电气连接**:卡盘通常与探针阵列一起工作,通过探针与样品接触,实现电气信号的传输,允许测试电性能参数。
5. **兼容性**:探针台卡盘设计通常具有良好的兼容性,可以与不同类型和尺寸的样本以及探针头配合使用。
6. **环境控制**:一些探针台卡盘具备气氛控制功能,可以在特定气氛(如氮气或真空环境)中进行测试,以降低氧化和其他环境影响。
总的来说,探针台卡盘在半导体研发和制造过程中扮演着至关重要的角色,它不仅提高了测试的性,还为研究提供了的实验条件。
高低温真空探针台是一种专门用于材料和器件测试的设备,广泛应用于以下领域:
1. **半导体研究**:用于测试半导体材料、器件(如晶体管、二极管等)的电性能和热性能,尤其是在极端温度条件下的表现。
2. **纳米材料**:适合对纳米材料进行电学性能测试,研究其在不同温度和真空条件下的特性。
3. **物理学和材料科学研究**:可用于基本物理实验,如测量材料的电导率、热导率等,以及研究材料在高低温下的相变行为。
4. **太阳能电池**:用于太阳能电池材料的测试,以评估其在不同温度和环境条件下的效率和稳定性。
5. **传感器及MEMS器件**:对传感器和微机电系统(MEMS)的性能进行评估,确保其在实际应用中的可靠性。
6. **实验室研发**:研究人员在新材料开发过程中,可以使用探针台进行电学和热学测试。
总之,高低温真空探针台适用于多种需要在高低温及真空条件下进行测试的高科技领域。
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