温度范围零下180~550℃
变温速度0~10℃/min,升降温线性可控
温度分辨率及稳定性± 0.1℃
控温方式PID
温度传感器PT100
温度传感器数量2
致冷方式液氮(泵控制)
探针数量4(可增加)
探针材质紫铜镀金
测试通道4
载样台材质及尺寸银质,35*35mm(以实际尺寸为准)
冷热台尺寸160*150*29mm(以实际尺寸为准)
实验环境可抽真空,可充入保护气氛(氮气),配水冷接口
探针夹具是一种于电子测试和测量的工具,主要用于固定和对准探针,以便在电路板或其他电子元器件上进行接触测试。它们通常用于:
1. **自动化测试系统**:在自动测试设备(ATE)中,用于确保探针能够准确地接触到被测设备的测试点。
2. **手动测试**:一些探针夹具设计简单,便于操作员手动对准和测试。
3. **实验室应用**:用于在研发和实验阶段对电路进行测试,以验证其性能和功能。
探针夹具的设计和功能多种多样,可以根据不同的测试需求进行调整。有的夹具具有高度可调、旋转功能,以便在狭小空间或复杂结构中使用。其材质通常要求具备良好的导电性和耐磨损性能,以确保测试的准确性和可靠性。
探针夹具是一种用于电子测量和测试的工具,广泛应用于半导体行业、电子元件测试和电路板维修等领域。它的主要特点包括:
1. **性**:探针夹具能够以极高的精度对接触点施加压力,以确保可靠的电气接触,从而提高测试数据的准确性。
2. **多功能性**:不同类型的探针夹具可以适配测试需求,包括不同类型的探针和接触方式,满足不同的测试标准。
3. **可靠性**:的设计和材料选择使得探针夹具在多次使用中保持稳定的性能,降低故障率,提高测试的可靠性。
4. **灵活性**:探针夹具通常具有可调节的结构,可以适应不同尺寸和形状的被测物体,增强了使用的灵活性。
5. **易于操作**:设计时考虑到人机工程学,使得操作者能够方便地进行装配、调节和操作,减少了使用时的复杂性。
6. **兼容性**:探针夹具可以与多种测试设备(如示波器、万用表等)兼容使用,提升测试系统的集成度。
7. **耐用性**:量的材料和精密的制造工艺确保了探针夹具的耐用性,在率使用的环境下仍能保持良好的性能。
8. **热稳定性**:一些探针夹具设计考虑到了热膨胀的影响,保证在温度变化下仍能提供稳定的测试性能。
总之,探针夹具在电子测试和测量中扮演着重要角色,通过其优良的设计和性能特征,能够显著提高测试效率和可靠性。

高低温真空探针台是一种用于材料和半导体器件测试的设备,能够在极端温度和真空环境下进行电气特性测量。其主要功能包括:
1. **温度控制**:能够在广泛的温度范围内(通常从低于零度到几百度摄氏)控制样品的温度,便于研究材料在不同温度下的性能变化。
2. **真空环境**:提供低压真空环境,以减少气体分子对测量结果的影响,尤其是在材料表面或界面反应的研究中。
3. **电气测试**:可以连接测试仪器(如示波器、源测量单元等)进行电流、电压等电学特性的测量。
4. **多种探针配置**:可以灵活配置探针的数量和类型,以适应不同的实验需求,如单点探测或多点测量。
5. **样品放置**:支持多种类型的样品放置方式,如晶圆、薄膜、纳米结构等,以开展多样化的实验。
6. **数据采集与分析**:配合相关软件,可以进行实时数据采集和后续分析,帮助科研人员深入理解材料性能。
高低温真空探针台广泛应用于半导体、物理、材料科学等领域的研究和开发中,尤其是在新材料的开发和半导体器件的性能测试方面具有重要意义。

光学探针台是一种用于微观尺度上测量和分析样品的仪器,主要应用于材料科学、半导体研究、纳米技术和生物医学等领域。其主要功能包括:
1. **高精度定位**:光学探针台配备高精度的运动系统,可以将探针或光学装置在样品表面上进行微米级甚至纳米级的定位,以实现准确的测量和操作。
2. **光学成像**:利用高分辨率的成像系统,可以对样品进行实时观察,提供样品表面的详细信息,帮助研究人员分析结构和特性。
3. **探针测量**:光学探针台通常配有不同类型的探针,可以进行电学、热学、力学等性质的测量,例如扫描探针显微镜(SPM)和原子力显微镜(AFM)等。
4. **环境控制**:许多光学探针台可以在控制的环境条件下进行实验(如温度、湿度、气氛等),以观察样品在不同条件下的表现。
5. **数据采集和分析**:通过集成的软件系统,光学探针台可以实时采集数据并进行分析,为研究人员提供有价值的信息。
6. **样品操作**:某些光学探针台还具备对样品进行处理和操作的能力,如刻蚀、沉积等,为材料制备提供。
7. **多功能集成**:现代光学探针台还可以与其他技术结合,如激光光谱、电子显微镜等,以实现更全面的分析与表征。
光学探针台因其和多功能性,成为研究和开发中的重要工具。

探针台(Probe Station)是一种用于半导体和微电子测试的设备,主要用于在实验室环境中对芯片或材料进行电学性能测试。它的主要功能包括:
1. **电气测试**:探针台配备有探针,可以直接接触到芯片上的电气接点,进行电性能测试,比如电流、电压、阻抗等。
2. **温度控制**:许多探针台具有温度控制功能,可以在高温或低温下进行测试,以评估材料或器件在不同温度下的特性。
3. **真空环境**:某些探针台可以在真空环境下操作,以减少空气对测试结果的影响,尤其是在某些敏感实验中。
4. **图像捕捉与分析**:探针台通常配备有显微镜,可以对芯片进行观察,帮助技术人员准确定位探针和分析测试结果。
5. **自动化测试**:一些探针台能够与计算机系统配合,实现自动化操作和数据采集,提高测试效率和准确性。
6. **多功能扩展**:探针台可以与其他设备(如信号发生器、示波器等)联动,进行更复杂的电气测试和分析。
探针台广泛应用于半导体制造、材料科学、电子工程等领域,是研究和开发新型电子元件的重要工具。
同轴真空馈通件广泛应用于许多领域,主要包括:
1. **微波通信**:在卫星通信、无线传输等领域中,用于传输信号。
2. **射频功率放大**:在射频(RF)放大器中,帮助传输和采集高功率信号。
3. **天线系统**:在天线和发射器中,用于信号传输。
4. **高能物理实验**:在粒子加速器等实验设备中,用于传输信号。
5. **实验室设备**:在实验室中用于设备的连接和信号传输。
6. **系统**:用于和民用系统中进行信号传递。
7. **设备**:在某些医学成像和设备中也会用到。
同轴真空馈通件的设计需要考虑频率范围、功率处理能力、插入损耗以及物理尺寸等因素,以确保其在特定应用中的性能和可靠性。
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