乐山同轴真空馈通件
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产品描述

温度范围零下180~550℃ 变温速度0~10℃/min,升降温线性可控 温度分辨率及稳定性± 0.1℃ 控温方式PID 温度传感器PT100 温度传感器数量2 致冷方式液氮(泵控制) 探针数量4(可增加) 探针材质紫铜镀金 测试通道4 载样台材质及尺寸银质,35*35mm(以实际尺寸为准) 冷热台尺寸160*150*29mm(以实际尺寸为准) 实验环境可抽真空,可充入保护气氛(氮气),配水冷接口
真空探针台是一种用于微电子器件测试和特性分析的设备,广泛应用于半导体研究和研发领域。它的主要功能是将探针对准被测试样品,同时在真空环境下进行的电气测试。
真空探针台的工作原理是通过在高真空状态下,将探针与芯片或其他样品直接接触,以测量其电气特性。在真空环境中,能够减少空气干扰,降低氧化和污染的风险,从而提供更准确和重复的测试结果。
主要用途包括:
1. **半导体器件的特性测试**:如 MOSFET、二极管等。
2. **材料研究**:在材料科学中,对特定材料的电性和热性进行研究。
3. **微纳米技术的研发**:在 MEMS(微电机械系统)和纳米尺度器件的开发和测试中。
真空探针台通常配备高精度的定位系统,以确保探针能够准确地对准待测样品,此外,有些设备还可与其他测试仪器(如示波器、源测量单元等)集成,以实现更复杂的测试需求。
真空探针台是一种用于微电子器件测试与研究的精密仪器,其主要功能包括:
1. **电学测试**:能够对半导体器件进行电性能测试,如IV(电流-电压)特性测试、CV(电容-电压)特性测试等。
2. **高真空环境**:提供高真空或真空环境,减少气体分子对测试结果的干扰,特别是在处理空气敏感材料或量子特性研究时尤为重要。
3. **微观定位**:由于其高精度的定位功能,能够对微小结构进行接触和扫描,适用于纳米尺度设备的测试。
4. **冷热测试**:部分真空探针台配备温控系统,可以在低温或高温条件下进行测试,以研究材料和器件在不同温度下的特性。
5. **材料表征**:能够对薄膜、纳米材料等进行表征,分析其电学性质、表面状态等。
6. **集成化测试**:可以与其他仪器(如扫描电子显微镜、原子力显微镜等)联用,进行更深入的材料或器件分析。
总之,真空探针台是半导体研究、材料科学等领域中的重要设备。
乐山同轴真空馈通件
真空探针台是一种用于微电子和材料科学领域的高精度测试设备,主要用于对半导体wafer、材料样品的电气特性进行测量。其特点主要包括:
1. **高真空环境**:真空探针台能够在高真空条件下工作,减少气体分子对测试过程的干扰,提高测量的准确性和重复性。
2. **高精度定位**:该设备通常配备高精度的定位系统,可以对准探针与样品的接触点,确保测量的准确性。
3. **多样化探针选择**:真空探针台支持多种类型的探针,可根据不同的实验需求进行更换,适应不同的测试任务。
4. **温度控制功能**:许多真空探针台配备了温度控制系统,能够在特定温度下进行测量,对于研究材料的温度依赖特性尤为重要。
5. **高灵敏度测量**:在真空条件下,探针台能够进行更高灵敏度的电气测量,适合于低信号的测量任务。
6. **兼容性强**:真空探针台通常可以与多种测试设备协同使用,如网络分析仪、示波器等,满足多种测试需求。
7. **自动化程度**:现代真空探针台往往具备自动化控制系统,能够实现自动对焦、扫描和数据采集,提高实验效率。
8. **适用范围广泛**:真空探针台不仅可用于半导体行业,还可广泛应用于材料测试、纳米技术、生物传感器等多个领域。
总体而言,真空探针台是进行精细化电气测试的重要工具,其特性使其在科研和工业应用中具有的地位。
乐山同轴真空馈通件
同轴真空馈通件是一种用于电子设备的连接器,主要用于在真空环境中传输信号。其特点包括:
1. **优良的信号传输性能**:同轴结构能够有效地减少信号的损耗和反射,保证信号的质量。
2. **良好的屏蔽性能**:同轴设计可提供较好的电磁干扰屏蔽,防止外部干扰信号影响传输质量。
3. **耐高真空特性**:专门设计用于在真空环境中工作,不易受到气体和水分的影响,适用于真空设备,如粒子加速器和真空腔等。
4. **高功率承受能力**:能够承受较高的功率水平,适合用于高功率射频应用。
5. **机械稳定性**:结构坚固,能够经受一定的机械应力和温度变化。
6. **便于安装和维护**:设计通常考虑到易于安装和维护,便于与其他设备连接。
7. **多种接口类型**:可根据需要提供不同类型的连接器接口,以适应应用场景。
以上这些特点使得同轴真空馈通件在通信、射频设备及实验物理等领域具有广泛的应用前景。
乐山同轴真空馈通件
探针台(Probe Station)是一种用于测试和分析微电子器件(如集成电路、传感器等)的设备。其主要特点包括:
1. **高精度定位**:探针台能够定位待测样品,通常配备精密机械手臂和高分辨率的光学显微镜。
2. **多样化探针**:探针台配备多种探针,可以用于不同类型的测试,如直流、交流或测试。
3. **温控能力**:许多探针台具备温度控制功能,可以在极低或极高的温度条件下进行测试,以模拟实际工作环境。
4. **可扩展性**:探针台通常可以与其他测试设备(如示波器、信号发生器)进行连接,实现更复杂的测试方案。
5. **软件控制**:现代探针台配备了计算机控制系统,可以通过软件进行操作,实时收集和分析测试数据。
6. **兼容性**:探针台可以处理多种尺寸和形状的样品,包括晶圆、芯片和其他微电子器件。
7. **环境监控**:一些探针台具有气候控制系统,可以在洁净室或受控环境中进行测试,确保测试结果的可靠性。
这些特点使得探针台在半导体开发、质量控制和研究等领域中扮演着重要角色。
探针夹具主要用于电子元件测试和测量,其适用范围包括:
1. **半导体测试**:用于芯片、集成电路(IC)等电子元器件的电气特性测试。
2. **电路板测试**:适用于PCB(印刷电路板)的测试,能够帮助检测PCB上的连接和功能。
3. **研发和实验**:在电子产品的研发阶段,探针夹具可以用于快速原型测试和实验验证。
4. **质量控制**:在生产过程中,探针夹具可用于自动化测试以确保产品质量。
5. **维修与故障排查**:在维修过程中,探针夹具可以用来快速测试疑似故障的元器件。
探针夹具的灵活性和性使其成为电子行业广泛使用的重要工具。
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