温度范围零下180~550℃
变温速度0~10℃/min,升降温线性可控
温度分辨率及稳定性± 0.1℃
控温方式PID
温度传感器PT100
温度传感器数量2
致冷方式液氮(泵控制)
探针数量4(可增加)
探针材质紫铜镀金
测试通道4
载样台材质及尺寸银质,35*35mm(以实际尺寸为准)
冷热台尺寸160*150*29mm(以实际尺寸为准)
实验环境可抽真空,可充入保护气氛(氮气),配水冷接口
高低温真空探针台是一种用于半导体器件测试和研究的设备,它可以在高温或低温环境下进行测量,同时具备真空操作的功能。这种设备通常用于材料科学、电子学、物理学等领域,特别是在半导体、纳米材料和器件特性测试方面。
高低温真空探针台的主要功能和特点包括:
1. **温度控制**:能够将测试样品的温度控制在很广泛的范围内,通常从液氮温度(约-196℃)到几百摄氏度的高温。
2. **真空环境**:设备能够在真空条件下工作,减少气体对测试结果的影响,从而提高测量的度。
3. **电气测量**:探针台配备有精密的探针,可以对样品进行电气测量,例如测量电流、电压和电阻等参数。
4. **样品对接**:探针台通常设计有灵活的样品支架,能够适应不同形状和尺寸的样品。
5. **自动化和数据采集**:许多现代探针台配备计算机控制系统,可以实现自动测量和数据采集,提高测试的效率和 reproducibility(可重复性)。
高低温真空探针台广泛应用于研究和开发新型电子器件、材料特性分析以及故障分析等领域。它们在电子和光电行业的研发中扮演着重要角色。
探针台卡盘(probe station chuck)是用于半导体测试和材料研究的重要设备,其特点包括:
1. **高精度**:探针台卡盘通常具有高精度的定位能力,能够确保探针与测试样品之间的对接,从而提高测试的准确性。
2. **温控能力**:许多探针台卡盘配备有温度控制系统,可以在升温或降温的情况下进行测试,帮助研究人员观察材料在不同温度下的性能变化。
3. **真空功能**:某些探针台卡盘具有真空夹紧功能,可以确保样品在测试过程中固定稳定,减少外部干扰。
4. **兼容性强**:探针台卡盘通常设计为兼容多种类型的测试探针和测试仪器,方便用户进行不同类型的实验。
5. **灵活性**:探针台卡盘可以适应不同尺寸和形状的样品,提供多种夹持方式,以满足不同测试需求。
6. **性能**:针对信号测试的需求,一些探针台卡盘具备良好的性能,能够有效降低信号衰减和反射。
7. **用户友好的操作界面**:现代探针台常配备直观的控制系统,便于用户对设备进行调整和设置。
8. **耐用性**:探针台卡盘通常采用量材料制造,以确保设备的耐久性和稳定性,在复杂环境下也能长期使用。
综合以上特点,探针台卡盘在半导体测试、材料研究等领域中扮演着关键角色,极大地推动了相关技术的发展。

同轴真空馈通件是一种用于信号传输的元件,主要的功能包括:
1. **信号传输**:用于在真空环境中传输或微波信号,确保信号的有效传递。
2. **隔离真空和常规环境**:通过密封设计,能够在真空环境下工作,避免外界环境对设备的影响,保护信号传输的稳定性。
3. **低损耗**:设计优化以减少信号在传输过程中的损耗,确保信号的质量。
4. **相位稳定性**:在不同温度和真空条件下,保持信号的相位稳定性。
5. **适应性**:可以和不同类型的同轴电缆和连接器兼容,适应多种不同的应用场合。
6. **性能**:能在率下正常工作,通常用于、通讯、测试设备等设备中。
同轴真空馈通件广泛应用于科学实验、微波技术、卫星通讯、粒子加速器等领域,能够满足信号在特殊环境下的传输需求。

探针座位移平台是一种用于电子测试和测量的设备,主要功能包括:
1. **定位**:能够地移动探针到*的测试点,确保测量的准确性。
2. **多轴控制**:通常具有多个自由度(如X、Y、Z轴),可以在三维空间中灵活移动,以适应不同尺寸和布局的测试样品。
3. **自动化测试**:支持自动化操作,提高测试效率,减少人为误差。
4. **扫描功能**:可以进行扫描操作,逐点测量,以获取样品的电性能数据。
5. **与测试仪器集成**:可与测试仪器(如示波器、LCR表等)连接,进行综合测试与数据分析。
6. **数据记录与分析**:记录测试过程中的数据,并可进行后续分析,以便于评估样品性能。
7. **灵活适应性**:可根据不同的测试需求和样品特性,调整探针的位置和压力,以确保接触。
探针座位移平台在半导体、微电子、材料科学等领域的测试和研究中具有重要的应用价值。

探针台卡盘(Probing Station Chuck)在半导体测试和研究中具有重要功能。它的主要功能包括:
1. **样品固定**:探针台卡盘能够稳固地固定待测试的半导体芯片或其他样本,确保在测试过程中样品不发生移动。
2. **定位**:通过高精度的微调机制,卡盘可以实现样品的定位,以便于探针与样品上的特定点进行接触。
3. **温度控制**:一些的探针台卡盘配备了温度控制功能,可以在不同的温度条件下进行测试,以研究温度对电性能的影响。
4. **电气连接**:卡盘通常与探针阵列一起工作,通过探针与样品接触,实现电气信号的传输,允许测试电性能参数。
5. **兼容性**:探针台卡盘设计通常具有良好的兼容性,可以与不同类型和尺寸的样本以及探针头配合使用。
6. **环境控制**:一些探针台卡盘具备气氛控制功能,可以在特定气氛(如氮气或真空环境)中进行测试,以降低氧化和其他环境影响。
总的来说,探针台卡盘在半导体研发和制造过程中扮演着至关重要的角色,它不仅提高了测试的性,还为研究提供了的实验条件。
探针台卡盘广泛应用于半导体行业,尤其是在集成电路(IC)测试和微电子设备的研发过程中。其适用范围主要包括以下几个方面:
1. **半导体测试**:用于对晶圆或封装好的芯片进行电气测试,验证其性能和功能。
2. **光电器件测量**:适用于光电传感器、激光器等器件的测试,评估其光电性能。
3. **微机电系统(MEMS)**:在MEMS器件的研发与测试中,探针台卡盘能够帮助实现高精度的电气连接和测试。
4. **材料研究**:用于研究新材料的电学性质,评估其在电子器件中的应用潜力。
5. **教育与研发**:在实验室和高等院校中,用于教学和科研活动,帮助学生和研究人员进行基础实验和技术开发。
探针台卡盘的设计通常强调高精度和可调性,以适应不同尺寸和类型的测试样品,确保测试结果的准确性和重复性。
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