温度范围零下180~550℃
变温速度0~10℃/min,升降温线性可控
温度分辨率及稳定性± 0.1℃
控温方式PID
温度传感器PT100
温度传感器数量2
致冷方式液氮(泵控制)
探针数量4(可增加)
探针材质紫铜镀金
测试通道4
载样台材质及尺寸银质,35*35mm(以实际尺寸为准)
冷热台尺寸160*150*29mm(以实际尺寸为准)
实验环境可抽真空,可充入保护气氛(氮气),配水冷接口
探针夹具是用于电子测试和测量的一种设备,主要用于固定测试探针,以便在电路板或其他电子元件上进行测量。它通常在自动测试设备(ATE)中使用,帮助实现高速、高精度的测试。
探针夹具的主要功能包括:
1. **固定探针**:确保探针与被测对象的接触稳定,避免因震动或移动导致的测量误差。
2. **对准**:提供的对准功能,以保证探针能准确地接触到*的测试点。
3. **压力控制**:有些夹具可以调节探针施加的压力,以适应不同的测试需求。
4. **兼容性**:探针夹具一般设计为可以与不同类型的探针和测试设备兼容,以满足多样化的测试需求。
在设计探针夹具时,通常需要考虑到测试的精度、操作的便利性以及与被测对象的兼容性等因素。
微型高低温真空探针台是一种用于电子材料和器件测试的精密仪器,具备以下几个主要特点:
1. **高低温测试能力**:能够在极低温(如液氮温度)到高温(如400°C以上)范围内进行测试,适用于不同温度环境下的材料性能研究。
2. **真空环境**:探针台设计用于在高真空条件下操作,减少氧化和污染,确保测试结果的准确性和重复性。
3. **高精度探测**:配备高精度的探针和测量系统,能够准确获取微小电流、电压等信号,适用于微小尺度器件的电测量。
4. **微型化设计**:体积小巧,便于在有限空间内进行操作,适合于微电子器件、纳米材料等研究。
5. **灵活的样品装配**:通常具有友好的样品夹具设计,便于不同类型和尺寸的样品装配和更换。
6. **多功能性**:可能支持多种测试模式,如直流测试、交流测试、霍尔效应测试等,适用范围广。
7. **易于连接**:可与其他测试设备(如示波器、信号发生器等)快速连接,便于进行综合测试。
总之,微型高低温真空探针台在材料科学、半导体研究和纳米技术等领域中具有重要的应用价值。

探针台(Probe Station)是一种用于半导体和微电子测试的设备,主要用于在实验室环境中对芯片或材料进行电学性能测试。它的主要功能包括:
1. **电气测试**:探针台配备有探针,可以直接接触到芯片上的电气接点,进行电性能测试,比如电流、电压、阻抗等。
2. **温度控制**:许多探针台具有温度控制功能,可以在高温或低温下进行测试,以评估材料或器件在不同温度下的特性。
3. **真空环境**:某些探针台可以在真空环境下操作,以减少空气对测试结果的影响,尤其是在某些敏感实验中。
4. **图像捕捉与分析**:探针台通常配备有显微镜,可以对芯片进行观察,帮助技术人员准确定位探针和分析测试结果。
5. **自动化测试**:一些探针台能够与计算机系统配合,实现自动化操作和数据采集,提高测试效率和准确性。
6. **多功能扩展**:探针台可以与其他设备(如信号发生器、示波器等)联动,进行更复杂的电气测试和分析。
探针台广泛应用于半导体制造、材料科学、电子工程等领域,是研究和开发新型电子元件的重要工具。

探针座位移平台是一种用于电子测试和测量的设备,主要功能包括:
1. **定位**:能够地移动探针到*的测试点,确保测量的准确性。
2. **多轴控制**:通常具有多个自由度(如X、Y、Z轴),可以在三维空间中灵活移动,以适应不同尺寸和布局的测试样品。
3. **自动化测试**:支持自动化操作,提高测试效率,减少人为误差。
4. **扫描功能**:可以进行扫描操作,逐点测量,以获取样品的电性能数据。
5. **与测试仪器集成**:可与测试仪器(如示波器、LCR表等)连接,进行综合测试与数据分析。
6. **数据记录与分析**:记录测试过程中的数据,并可进行后续分析,以便于评估样品性能。
7. **灵活适应性**:可根据不同的测试需求和样品特性,调整探针的位置和压力,以确保接触。
探针座位移平台在半导体、微电子、材料科学等领域的测试和研究中具有重要的应用价值。

探针台卡盘(probe station chuck)是用于半导体测试和材料研究的重要设备,其特点包括:
1. **高精度**:探针台卡盘通常具有高精度的定位能力,能够确保探针与测试样品之间的对接,从而提高测试的准确性。
2. **温控能力**:许多探针台卡盘配备有温度控制系统,可以在升温或降温的情况下进行测试,帮助研究人员观察材料在不同温度下的性能变化。
3. **真空功能**:某些探针台卡盘具有真空夹紧功能,可以确保样品在测试过程中固定稳定,减少外部干扰。
4. **兼容性强**:探针台卡盘通常设计为兼容多种类型的测试探针和测试仪器,方便用户进行不同类型的实验。
5. **灵活性**:探针台卡盘可以适应不同尺寸和形状的样品,提供多种夹持方式,以满足不同测试需求。
6. **性能**:针对信号测试的需求,一些探针台卡盘具备良好的性能,能够有效降低信号衰减和反射。
7. **用户友好的操作界面**:现代探针台常配备直观的控制系统,便于用户对设备进行调整和设置。
8. **耐用性**:探针台卡盘通常采用量材料制造,以确保设备的耐久性和稳定性,在复杂环境下也能长期使用。
综合以上特点,探针台卡盘在半导体测试、材料研究等领域中扮演着关键角色,极大地推动了相关技术的发展。
光学探针台是一种精密测量和表征材料及器件的设备,广泛应用于多个领域。其适用范围主要包括:
1. **半导体行业**:用于测试和表征半导体材料和器件的光学特性,例如光电流、发光特性和光谱响应等。
2. **材料科学**:用于研究材料(如纳米材料、薄膜等)的光学性质,包括反射、折射、吸收和散射等。
3. **生物医学**:用于生物样品的光学成像、荧光检测和细胞分析等,帮助研究细胞行为和生物反应。
4. **光电子学**:用于开发和测试光电子器件(如激光器、光探测器等)的性能,评估它们在不同波长下的响应。
5. **光学学研究**:用于基础光学实验和高精度测量,研究光的传播、干涉、衍射等现象。
6. **照明工程**:用于分析光源的光谱特性和光分布,以优化照明设计。
光学探针台通过其高精度和高稳定性,能够为上述领域的研究和开发提供重要支持。
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