宜宾探针台
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产品描述

温度范围零下180~550℃ 变温速度0~10℃/min,升降温线性可控 温度分辨率及稳定性± 0.1℃ 控温方式PID 温度传感器PT100 温度传感器数量2 致冷方式液氮(泵控制) 探针数量4(可增加) 探针材质紫铜镀金 测试通道4 载样台材质及尺寸银质,35*35mm(以实际尺寸为准) 冷热台尺寸160*150*29mm(以实际尺寸为准) 实验环境可抽真空,可充入保护气氛(氮气),配水冷接口
光学探针台是一种用于微观材料表征和测量的实验设备,广泛应用于物理、材料科学、半导体研究以及生物医学等领域。其主要功能是通过光学方式对样品进行分析,获取样品的光学性质和其他相关信息。
光学探针台通常具有以下几个主要组件:
1. **光源**:提供所需波长的光线,常用的光源有激光器、白光光源等。
2. **探针**:用于接触样品并进行光学测量,探针可以是单模或多模光纤,或者特定形状的光学元件。
3. **样品台**:用于固定样品位置,通常可以在多个方向上移动,以便进行定位。
4. **探测器**:用于接收从样品反射或透射回来的光信号,通常是光电二极管、CCD或CMOS相机等。
5. **控制系统**:用于控制光源、移动样品台以及数据采集和处理。
光学探针台的应用包括:
- **表面形貌的测量**:通过干涉、散射等方式进行表面粗糙度和形貌分析。
- **光学性质的表征**:测量折射率、透射率等光学参数。
- **材料的成分分析**:例如,通过拉曼光谱技术分析材料的化学成分。
此类设备的高分辨率和实时测量能力使其在科研和工业领域中有着重要的应用前景。
探针台(Probe Station)是一种用于半导体和微电子测试的设备,主要用于在实验室环境中对芯片或材料进行电学性能测试。它的主要功能包括:
1. **电气测试**:探针台配备有探针,可以直接接触到芯片上的电气接点,进行电性能测试,比如电流、电压、阻抗等。
2. **温度控制**:许多探针台具有温度控制功能,可以在高温或低温下进行测试,以评估材料或器件在不同温度下的特性。
3. **真空环境**:某些探针台可以在真空环境下操作,以减少空气对测试结果的影响,尤其是在某些敏感实验中。
4. **图像捕捉与分析**:探针台通常配备有显微镜,可以对芯片进行观察,帮助技术人员准确定位探针和分析测试结果。
5. **自动化测试**:一些探针台能够与计算机系统配合,实现自动化操作和数据采集,提高测试效率和准确性。
6. **多功能扩展**:探针台可以与其他设备(如信号发生器、示波器等)联动,进行更复杂的电气测试和分析。
探针台广泛应用于半导体制造、材料科学、电子工程等领域,是研究和开发新型电子元件的重要工具。
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光学探针台是一种高精度的实验设备,主要用于表征材料的光学性能和研究微观结构。以下是光学探针台的主要特点:
1. **高精度定位**:光学探针台通常具备高精度的运动系统,能够在微米或纳米级别上进行样品定位,以确保实验结果的准确性。
2. **多功能性**:很多光学探针台可以支持多种测量方法,如反射、透射、荧光及拉曼光谱等,适用于不同的研究需求。
3. **环境控制**:有些光学探针台配备有温度、湿度、气氛等环境控制系统,能够在特定条件下进行实验,适应不同材料的测试要求。
4. **光学元件的集成**:探针台通常集成有高性能的光学元件,如透镜、滤光片和光源等,以提高光学测量的灵敏度和信噪比。
5. **图像采集与分析**:许多光学探针台具有图像采集功能,可以实时观察样品表面、形貌及其他特征,并与测量数据结合进行分析。
6. **模块化设计**:一些探针台是模块化的,可以根据实验需要进行升级和扩展,适应不同的研究需求。
7. **用户友好的操作界面**:现代的光学探针台通常配备友好的软件界面,使得用户可以轻松设置实验参数,进行数据采集和分析。
8. **适用性广**:广泛应用于半导体、材料科学、生物医学等领域,在基础研究和工业应用中都具有重要价值。
光学探针台因其高度和多功能性,被广泛用于科研与工业领域的光学测量与分析任务。
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探针夹具是一种用于电子测量和测试的工具,广泛应用于半导体行业、电子元件测试和电路板维修等领域。它的主要特点包括:
1. **性**:探针夹具能够以极高的精度对接触点施加压力,以确保可靠的电气接触,从而提高测试数据的准确性。
2. **多功能性**:不同类型的探针夹具可以适配测试需求,包括不同类型的探针和接触方式,满足不同的测试标准。
3. **可靠性**:的设计和材料选择使得探针夹具在多次使用中保持稳定的性能,降低故障率,提高测试的可靠性。
4. **灵活性**:探针夹具通常具有可调节的结构,可以适应不同尺寸和形状的被测物体,增强了使用的灵活性。
5. **易于操作**:设计时考虑到人机工程学,使得操作者能够方便地进行装配、调节和操作,减少了使用时的复杂性。
6. **兼容性**:探针夹具可以与多种测试设备(如示波器、万用表等)兼容使用,提升测试系统的集成度。
7. **耐用性**:量的材料和精密的制造工艺确保了探针夹具的耐用性,在率使用的环境下仍能保持良好的性能。
8. **热稳定性**:一些探针夹具设计考虑到了热膨胀的影响,保证在温度变化下仍能提供稳定的测试性能。
总之,探针夹具在电子测试和测量中扮演着重要角色,通过其优良的设计和性能特征,能够显著提高测试效率和可靠性。
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探针台卡盘(Probing Station Chuck)在半导体测试和研究中具有重要功能。它的主要功能包括:
1. **样品固定**:探针台卡盘能够稳固地固定待测试的半导体芯片或其他样本,确保在测试过程中样品不发生移动。
2. **定位**:通过高精度的微调机制,卡盘可以实现样品的定位,以便于探针与样品上的特定点进行接触。
3. **温度控制**:一些的探针台卡盘配备了温度控制功能,可以在不同的温度条件下进行测试,以研究温度对电性能的影响。
4. **电气连接**:卡盘通常与探针阵列一起工作,通过探针与样品接触,实现电气信号的传输,允许测试电性能参数。
5. **兼容性**:探针台卡盘设计通常具有良好的兼容性,可以与不同类型和尺寸的样本以及探针头配合使用。
6. **环境控制**:一些探针台卡盘具备气氛控制功能,可以在特定气氛(如氮气或真空环境)中进行测试,以降低氧化和其他环境影响。
总的来说,探针台卡盘在半导体研发和制造过程中扮演着至关重要的角色,它不仅提高了测试的性,还为研究提供了的实验条件。
探针台是一种广泛应用于微电子、半导体和材料科学等领域的测试设备。其适用范围主要包括以下几个方面:
1. **半导体测试**:探针台用于对半导体器件进行电性能测试,如晶体管、二极管、集成电路等。
2. **材料分析**:可以用于测试和分析材料的电学、热学和光学特性,特别是在材料研发阶段。
3. **微纳米技术**:探针台在微纳米器件的制造和测试中扮演着重要角色,用于研究和开发微机电系统(MEMS)和纳米技术相关产品。
4. **研发与生产测试**:在产品研发阶段和生产线上,探针台可以快速地对产品进行测试和验证,确保其性能指标符合设计要求。
5. **故障分析**:在电路故障分析中,通过探针台可以定位问题部件,进行电气测试和故障排查。
6. **教学与科研**:在高校和研究机构,探针台常用于实验教学和科研项目,为学生和研究人员提供实践机会。
总之,探针台是一个多功能、高精度的测试平台,适用于多个领域的研究与应用。
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